合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 缺陷样品的制备方法及互连结构缺陷的失效分析方法

缺陷样品的制备方法及互连结构缺陷的失效分析方法

880   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:31
本发明提供了一种缺陷样品的制备方法及互连结构缺陷的失效分析方法,所述缺陷样品的制备方法包括:提供一具有待分析缺陷的半导体结构;在互连结构中形成一标记,标记与待分析缺陷间隔设置;研磨互连结构获得缺陷样品,其中,标记周围的互连结构在研磨过程中沿标记的侧壁出现分层状况,并通过光学显微镜观察根据分层状况判断互连结构的剩余层数以实现研磨过程的定位。本发明中,通过在待分析缺陷周围形成标记,且标记的侧壁暴露互连结构,利用研磨过程中对标记的侧壁的研磨程度的差异使得标记附近的互连结构出现分层状况,通过该分层状况以对该研磨过程实现准确定位,从而实现简便且高效的制备缺陷样品。
声明:
“缺陷样品的制备方法及互连结构缺陷的失效分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记