合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 失效分析方法、计算机设备和存储介质

失效分析方法、计算机设备和存储介质

840   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:30
本申请涉及一种失效分析方法、计算机设备和存储介质。失效分析方法包括:获取目标芯片颗粒内的各IO通道的失效数据,目标芯片颗粒包括m个物理模块,各物理模块包括若干IO通道,m为大于等于2正整数;将失效数据进行拆分,形成对应各物理模块的m组模块失效数据;根据各模块失效数据,判定各物理模块的局部失效类型;根据各物理模块的局部失效类型,判定目标芯片颗粒的存储失效类型。本申请能够有效提高失效分析效率。
声明:
“失效分析方法、计算机设备和存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记