本申请涉及一种失效分析方法、计算机设备和存储介质。失效分析方法包括:获取目标
芯片颗粒内的各IO通道的失效数据,目标芯片颗粒包括m个物理模块,各物理模块包括若干IO通道,m为大于等于2正整数;将失效数据进行拆分,形成对应各物理模块的m组模块失效数据;根据各模块失效数据,判定各物理模块的局部失效类型;根据各物理模块的局部失效类型,判定目标芯片颗粒的存储失效类型。本申请能够有效提高失效分析效率。
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