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分布式SRAM失效分析方法及系统

1069   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:30
本发明涉及一种分布式SRAM失效分析方法及其系统。一种分布式SRAM失效分析方法,该方法包括以下步骤:A、获取SRAM测试数据结果作为原始数据并对其进行失效分析,得到失效分析结果数据;B、对分析结果数据按预设的二进制编码规则进行二进制编码压缩,并将压缩后的分析结果数据注入分布式数据库中;C、从分布式数据库中提取要进行展示的分析结果数据,根据预设的二进制解码规则对提取的数据进行解码,根据绘制时的分辨率要求,对解码后的分析结果数据按预设的数据采样规则进行采样后,在前端绘制展示。本发明能有效压缩一片Wafer原有的占用空间,提高SRAM失效分析的效率。
声明:
“分布式SRAM失效分析方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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