本发明涉及一种对失效芯粒的自动分析方法及系统,所述方法包括以下步骤:收集待测晶圆的WAT数据及CP数据,进行数据分析处理,所述WAT数据为待测警员的电性测试数据,所述CP数据为待测晶圆上每一个芯粒的测试数据;根据待测晶圆不同的WAT测试项目、测试坐标将待测晶圆的WAT数据生成对应测试项目的WAT mapping图;根据待测晶圆不同的CP测试项目、测试坐标将待测晶圆的CP数据生成对应测试项目的CP mapping图,并根据生成的CP mapping图单独提取与WAT相对应shot位置的数据,形成新的CP‑WAT mapping图;将待测晶圆的WAT mapping图与CP‑WAT mapping图进行比对,计算得到WAT mapping图与CP‑WAT mapping图的相似值,并根据计算得到的相似值大小排序,判断出待测晶圆的CP测试项目与WAT测试项目的相关性。节省人力物力,提高效率。
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