本发明公开了一种CPI测试结构,包括:基底,其中形成有层间介电层;钝化层;设置在所述基底表面;顶层金属层,设置在所述钝化层下方;层间金属层,其包括贯穿所述层间介电层的层间互连结构,所述层间互连结构设置有首端和末端,所述首端和末端分别与顶层金属层电连接;所述层间互连结构还包括多个凸出端部,所述凸出端部延伸至顶层金属层并与顶层金属层电连接。本发明可节省失效分析过程中剥掉更多金属及介电层次所花的时间,提高失效分析效率。本发明还涉及一种基于该CPI测试结构的失效分析方法。
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