一种快速、无损的转基因大豆的鉴别方法,其包括以下:步骤S1:收集不同种类的转基因大豆和非转基因的大豆样品;步骤S2:将样本进行近红外光谱扫描,采集其近红外光谱,并剔除异常的样本数据;步骤S3:选取1100~2500 nm特征波段下的光谱信息,运用多元散射校正预处理方法进行对步骤S2中的光谱信息进行处理;并对处理后的光谱信息进行散射校正;步骤S4:采用留一法交叉验证求的PLS‑DA最佳的因子数;步骤S5:采用步骤S4的最佳的因子数,进行PLS‑DA建模;步骤S6:对于未知的样品,利用扫描器获取其近红外光谱,再利用建立好的PLS‑DA模型,预测其所属类别。本发明能够快速鉴别出致病菌的种类,并且具有高精度、操作简单等优点。
声明:
“快速、无损鉴别转基因大豆方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)