本实用新型涉及LED光源无损测量技术领域,具体地说,涉及LED光源无损实时
芯片可辩测量装置,包括测量箱,测量箱左侧面中心位置开设有卡槽,测量箱左端处的两侧边上均开设有与卡槽连通的第一螺纹孔,第一螺纹孔中均设有拧把,拧把末端设有夹板,测量箱右端面上安装有显示台,梯型滑槽上方设有滑动台,滑动台顶部设有检测台,第二螺纹孔中设有螺纹杆,测量箱上方铰接有翻盖;该LED光源无损实时芯片可辩测量装置,测量箱在翻盖的配合下,便于对内部的进行保护,拧把与夹板的配合,便于紧密夹持不同大小的LED光源芯片,滑动台与检测台的配合,便于对LED光源芯片的光照强度与温度进行对应的测量,在配合显示台,实时对测量的结果进行记录显示。
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