合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法

绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法

819   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:44
一种绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法,它包括:(1)、根据所要检测的应变硅异质结的晶体学结构特征,按X射线双晶对称衍射几何进行实验布置;(2)、利用同步辐射单色光对样品进行双晶对称衍射获得摇摆曲线,得到应变硅异质结的衍射峰;(3)、将样品以表面法线为轴旋转180°,再次获得摇摆曲线;(4)、比较旋转180°前后的双晶摇摆曲线,判断各衍射峰与衍射结构的对应关系;(5)、调整入射线的入射角度,以使SI层衍射合峰呈现非对称性或出现分立的峰;(6)、固定入射线的入射角度,在各衍射峰上拍摄对应衍射结构的同步辐射形貌像。本发明的优点是:实验程序简单、快捷,无须破坏样品即可获得应变硅异质结中位错的空间分布情况以及相关晶体学信息。
声明:
“绝缘体上应变硅异质结的无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记