合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 无损检测技术

> 测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法

测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法

679   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:41
本发明公开了一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法,充分利用射线的穿透能力,针对外壳已封装的继电器,利用穿过继电器的射线由于强度不同在传感器上的感光程度也不同,由此产生内部不连续的图像的原理。方法首先建立的未封装前各类继电器型号对应的匹配图数据库,然后将待检测的已封装的继电器成品通过X射线检测系统进行数字化图像采集并确定相似性测度和确定窗口大小以及窗口移动策略,进而计算继电器触点部分图像与数据库理想触点图像的互信息,最终准确测量出继电器触点间距。该检测方法具有实时性高,无需X光片等耗材,操作简便等特点。
声明:
“测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
无损检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记