本发明属于分子识别技术领域,具体涉及采用纳米级
半导体材料作为表面增强拉曼散射基底,进而进行SERS测试的新方法。包括半导体
纳米材料的表面功能化和检测修饰到半导体表面的探针分子SERS信号两部分。SERS信号经历显著的增强,其增强因子可达104。本发明在许多半导体和探针分子的组合上都表现出强的SERS信号,包括碲化镉、硫化镉、氧化锌、硫化锌、硫化铅、二氧化钛、四氧化三铅或氧化铅等半导体材料和巯基吡啶、对氨基苯硫酚、吡啶、巯基苯甲酸、1,4-2[2-(4-吡啶基)乙烯基]-苯、2-2联吡啶或4-4联吡啶等探针分子。可被广泛应用于先进材料、表面处理、催化作用、
电化学、腐蚀和生物传感器等方面。
声明:
“采用纳米级半导体材料为基底进行SERS检测的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)