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基于JADE和ELM的近红外光谱分析鉴别苹果货架期的方法

1048   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:54:48
本发明公开了一种基于JADE和ELM的近红外光谱分析鉴别苹果货架期的方法,包括以下步骤:(1)收集样品,采集样品光谱,得到样品近红外漫反射光谱数据,并使用离散小波变换压缩原始近红外光谱数据;(2)将压缩光谱数据使用特征矩阵联合近似对角化算法分解,得到独立分量矩阵和解混阵;(3)使用极限学习机方法,将解混阵作为模型输入,对应的货架期作为输出,建立极限学习机分析模型;(4)模型的质量评价,对待鉴别样品的货架期测定。本发明能够快速鉴别苹果货架期,丰富了化学计量学方法,具有良好的应用前景。
声明:
“基于JADE和ELM的近红外光谱分析鉴别苹果货架期的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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