本发明描述了当使用
电化学传感器(62)来测量分析物时降低干扰化合物影响的方法。本发明方法特别适用于电化学传感器,其中传感器(62)包括衬底(50)、第一个和第二个工作电极(10、12)和参比电极(14),并且第一个和第二个工作电极或者仅第二个工作电极包括没有试剂(22)的区域。在本发明中,描述了使用本发明测试条实施方案的算法,其以数学手段校正干扰物影响。
声明:
“降低电化学测试条中直接干扰电流的影响的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)