本发明公开了一种铷矿石中主次成分的X射线荧光光谱分析方法,具体流程如下:筛选含铷岩矿及土壤、水系沉积物的标准物质设计标准曲线,选择混合熔剂熔融制备标准样品,确定仪器分析条件、校正基体及谱线重叠效应,建立标准曲线,以定值样品验证方法准确度及重现性,测定铷矿石中硅、铝、钙、铁、钠、钾、钛、铷;本发明选择熔融制样作为铷矿石X射线荧光光谱分析前处理手段,相比粉末压片可消除粒度效应及一定程度上的基体效应,使用X射线荧光光谱分析铷矿石主次成分较之传统化学、仪器分析方法省时省力;本发明具有检出限低、线性范围宽、分析速度快等优点,单个矿石样品平均处理时间不超过20?min。
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