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地质剖面真厚度直接测量装置及测量方法

1001   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-02-26 00:30:10
本发明提供一种地质剖面真厚度直接测量装置及测量方法,一种地质剖面真厚度直接测量装置,包括有刻度的测量杆,测量杆上部通过固定装置安装有测量系统及GPS定位系统,测量系统包括用于测量地层倾角的仪器以及用于精准定位的激光笔;测量地层倾角的仪器、激光笔分别平行装配在测量杆两侧左侧,中心高度保持一致。本发明既能直接测量地层真厚度,既能适应各种地形环境下简单方便地进行剖面测量、剖面平移、地形和样点记录,又能避免测量参数多、测量不准确、计算繁琐等问题,从而达到提高野外地质工作效率和质量,减少人员工作量的目的。
声明:
“地质剖面真厚度直接测量装置及测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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