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地质剖面厚度测量装置

730   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-02-25 02:45:17
本发明涉及一种地质剖面厚度测量装置,包括转动连接的主测量模块和副测量模块以及测量模块;所述主测量模块包括主激光测距模块和主惯导模块;所述主激光测距模块用于测量所述主测量模块与待测点间的距离信息;所述主惯导模块用于测量所述主测量模块的三维姿态信息;所述副测量模块包括副激光测距模块和副惯导模块;所述副激光测距模块用于测量所述副测量模块与基准点间的距离信息;所述副惯导模块用于测量所述副测量模块的三维姿态信息;所述测量模块用于测量地质剖面厚度。本发明通过非接触测量方式获取地质剖面厚度信息,有效提高了野外调查中地质剖面的测量精确度、工作效率与安全性。
声明:
“地质剖面厚度测量装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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