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提高FIB刻蚀超浅光栅结构侧壁垂直度的方法及系统

1014   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 00:03:59
本发明提供一种提高FIB刻蚀超浅光栅结构侧壁垂直度的方法及系统,涉及离子束加工技术领域,包括:步骤S1:在目标材料上制备掩膜层;步骤S2:根据需要刻蚀的光栅结构设计优化FIB刻蚀参数;步骤S3:利用FIB刻蚀参数从掩膜层表面开始刻蚀,刻蚀深度至目标材料表面以下;步骤S4:去除掩膜层,在目标材料表面形成高侧壁垂直度的超浅光栅结构。本发明能够在铌酸锂等非导电材料表面实现刻蚀深度100nm以下、深度可控精度小于10nm、侧壁垂直度80°以上的超浅光栅结构。
声明:
“提高FIB刻蚀超浅光栅结构侧壁垂直度的方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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