本发明公开一种轻小型冲击过载测试装置,该装置以ARM
芯片为控制核心,控制信号的采集、存储、传输以及与PC机的交互。该装置具有两个独立的信号采集通道,两通道能够同步采集冲击信号,最大采样率可达1MHZ,可以适配IEPE冲击加速度传感器。该装置内部采用
锂电池供电,续航时间超过2小时,并能够通过USB接口进行充电。本发明采用小型化、模块化、嵌入式设计,重量为280g,半径24.5mm,高26.8mm,装置内部对PCB组件及锂电池进行整体灌封处理,能够经受50000g的过载冲击。本发明具有体积小、重量轻、一体化、抗高过载的优点,适合于在恶劣的发射环境中对安装体积要求严格的冲击过载测试。
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