本发明提供的是一种多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法。同时对波导
芯片消光比、光纤的耦合串音、波导输入输出端光纤的分布式消光比进行测量;利用不同偏振角度的起偏器和检偏器对波导进行多次测量,得到波导输入/输出端光纤内部的串扰数据,计算串扰数据的能量分布曲线,得到光纤的分布式消光比;测量得到带有芯片消光比、耦合串音信息的干涉图样,利用干涉图样中左右对称的干涉峰测量消光比和串音,判断左右两端测量结果的差值是否满足要求,如果差值较大需要重新测量,直至结果符合要求为止。该方法充分利用白光干涉精度高,动态范围大的特点,对探测到的偏振串扰数据进行测量,使测量结果准确、可靠。
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