本实用新型公开了一种矿机ASIC测试探针卡及关键结构,所述矿机ASIC测试探针卡包括外框、双轴电机、齿轮、移动平台、滚柱、支撑弹簧、放置框架、测试板、滑板、电磁铁、回复弹簧、顶块、延伸支架、活动架、触点和压板。本实用新型通过放置框架可批量的测试
芯片,提高测试机的工作效率,对芯片进行有效定位,避免芯片固定时发生偏差问题,同时,通过测试机构可以快速的进行电性连接,检测迅速,省时省力。
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