本发明公开了一种用于洞室顶拱结构面产状的辅助测量装置,属于工程地质勘测领域,用以解决对于洞室顶拱部位的结构面产状要想测量其走向和倾向数据等相对较为困难,导致测量数据准确性较差的问题。本发明包括两块呈平行设置的测量平板,在两块测量平板之间设置有可伸缩的连接杆,连接杆的两端分别与两块测量平板相向的内侧面相连,通过伸缩调节所述连接杆能够调节两块测量平板之间的间距。本发明中通过采用辅助测量装置,有效地将待测结构面的位置进行等效转移,从而间接降低测量结构面的操作高度、位置等,实现安全、准确、有效测量结构面产状的目的。
声明:
“用于洞室顶拱结构面产状的辅助测量装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)