本发明提供了一种储层X射线成像方法及装置、样品制备方法及装置,涉及地质勘探技术领域,该储层X射线成像方法包括:获取第一尺寸样品的第一成像数据;第一尺寸样品的第一表面设有第一标志物,第一尺寸样品的第二表面设有多个第二标志物;第二标志物的形状各不相同;利用第一成像数据、第一标志物和多个第二标志物确定第二尺寸样品的位置数据;获取第二尺寸样品的第二成像数据;第二尺寸样品根据第二尺寸样品的位置数据从第一尺寸样品中得到;第二成像数据的精度高于第一成像数据;将第一成像数据和第二成像数据作为储层X射线成像结果。本发明实施例可以实现不同分辨率下X射线扫描样品位置的准确对应,提高岩石结构的表征精度与代表性。
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