将不含贵金属发射剂和样品液依次滴加在单铼 带的同一位置上,使样品在电离过程中Nd+比NdO+ 的产额提高4-5个数量级,从而实现在质谱仪器上 用单铼带直接测定Nd+,以确定样品中Nd的准确含 量与同位素比值。本发明用于地质年代学中的年龄测定和同位素 示踪应用;还用于
稀土工业,尤其是高纯稀土标准的 建立,矿石及稀土产品、制品中稀土含量的高精确度 测定;也适用于难以产生金属离子的稀土及某些其它 元素(如La、Ce、Gd、Sm、U等)的分析测定。
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“用CX-1发射剂实现单铼带直接测定Nd+的钕同位素分析新方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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