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地表几何粗糙度测量装置

660   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-05 00:40:04
本发明公开了一种地表几何粗糙度测量装置,其包括:上下两个弧形断面支撑尺、一组固定于弧形断面支撑尺上的导向槽座、一组探针、固定两个弧形断面支撑尺的两个侧边支撑杆、连接两个侧边支撑杆的横杆、位于横杆上的水平泡、多组不同尺寸的接触靴、固定于侧边支撑杆上的背景黑布。该装置机械结构简单、轻巧便携、成本低、测量精度高,可以用于农业、土壤学、地质、微波遥感等应用领域中对地表几何粗糙度的测量。
声明:
“地表几何粗糙度测量装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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