合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 探矿技术

> 微位移测量技术

微位移测量技术

1090   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-05 00:40:04
本发明是一种微位移测量技术,可用于灾害性地质点或大型建筑的微位移险情预报。在被测点放置一廉价的无源角反射器。在监测点放置一微波比相测量装置。比相测量装置的发射部分向角反射器发射一单频微波,角反射器由三块廉价的铝板构成,它把入射到它的微波按原路径全反射回来(类似夜间高速公路上的珠光玻璃,在车灯照射下像一盏灯)。比相测量装置的接收部分接收角反射器反射回来的微波信号。经与发射信号比相可测得微位移量。测量精度可达毫米级与目前最先进的南方NGK-500/600双频RTK测量系统相当,但成本低、使用方便、安全。当微位移方向与电波传播方向近似垂直时,可用本发明的弯管测量技术。就是用一反射板改变电波传播方向,调整反射板17角度把测点放置在一安全方便的位置。弯管测量系统的精度与基本测量系统相同。角反射器也好,反射板也好都是廉价的铝板构成,即使压坏了也问题不大。
声明:
“微位移测量技术” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
探矿技术
上一个:洗井剂
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记