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基于光寻址电位传感器检测GPC3的方法

1006   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 17:30:16
一种基于光寻址电位传感器检测GPC3的方法:将LAPS芯片、光源驱动电路、信号放大电路、和LabVIEW平台组成了LAPS实时测试系统。设计合成了AuNPs/PEI‑rGO复合材料;将AuNPs/PEI‑rGO和GPC3‑Apt修饰在LAPS芯片形成敏感单元。在敏感单元上滴加GPC3标准溶液,形成LAPS的测试基片;在外加偏置电压作用下,LAPS测试基片上GPC3与GPC3‑Apt的特异性结合导致敏感单元表面的电势的改变,I‑V曲线产生相应的偏移;该偏移量与GPC3浓度在0.1‑100μg/mL表现出良好的线性关系,实现了对GPC3的检测。
声明:
“基于光寻址电位传感器检测GPC3的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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