本发明属于分析仪器的结构,能被用于分析自然的或工业的水、生物样品、地质样品和空气。本发明的目的在于实质性地降低由雾化器和分析仪消耗的能量,并且增加可分析物的数量。在这一点上,用于样品的热雾化的方法涉及在低压放电条件下实现从阴极的样品的离子喷射。该阴极被放电加热到800至1400℃之间的温度,而镇定气体包括有在10至15乇的气体压力下的氪(Kr)和氙(Xe)。该热离子雾化装置包括设置在充有惰性气体的气体放电室里的雾化器,其特征在于:该雾化器设置成中空圆柱状金属和薄壁的阴极。为了达到这个目的,该方法包括使用一热离子雾化装置,在一有效的实施例中,包括上述的气体放电雾化器,即中空金属和薄壁的阴极。这个机制能够是样品在短时间内(0.2至1秒)进行喷射和雾化,因此降低了检测极限而消除了基材影响。
声明:
“样品的热离子热雾化方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)