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基于多晶面Ir-Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜紫外探测器及其制备方法

614   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-18 17:07:02
一种基于多晶面Ir?Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜紫外探测器及其制备方法,属于半导体紫外光电探测技术领域。按紫外光线入射方向,从下至上依次为:石英片衬底、多晶面Ir?Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜、通过磁控溅射方法制备的Au叉指电极。多晶面Ir?Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜的厚度为80~110nm;在该薄膜中,Ti与Ir的摩尔比为1:0.0005~0.002,Ti与Pd的摩尔比为1:0.0005~0.002,Ir?Pd纳米粒子体系中的Ir纳米粒子和Pd纳米粒子均为多晶面结构。制作多晶面Ir?Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜材料,可以在Ir,Pd纳米粒子和TiO2三种材料优良性质的基础之上,通过调节掺杂Ir,Pd纳米粒子的量,更好的提升复合材料性能,从而提高器件在紫外探测领域的能力,使新型紫外探测器具有广阔的应用前景。
声明:
“基于多晶面Ir-Pd纳米粒子体系掺杂的TiO2薄膜紫外探测器及其制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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