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石油钻井中X射线荧光泥质含量的分析方法

572   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-03 00:30:16
本发明公开一种利用X射线荧光分析石油钻井中泥质含量的方法。该方法是采用能量色散型X射线荧光分析仪在石油钻井现场随钻井深度对岩心、岩屑中的化学元素进行连续分析,得出随深度变化的X射线荧光分析数据,采用线性回归方法对所述X射线荧光分析数据进行相关性分析和统计,计算出不同元素之间的相关系数,然后计算某元素与其他11种元素的平均相关系数,从中选出平均相关系数最大的元素;进行泥质含量的计算;绘制出随钻井深度变化的泥质含量曲线。本发明的方法可用于钻井现场,对已钻地层的岩性进行及时、准确地泥质含量分析,并根据泥质含量分析数据进行岩性和储集性能的定性和定量评价,形成基于X射线荧光分析的随钻地质解释评价方法,能正确有效地指导石油天然气勘探开发钻井生产。
声明:
“石油钻井中X射线荧光泥质含量的分析方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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