为了识别和/或评估包含基准标记(410)的
复合材料(400)的结构完整性,该基准标记将X射线衰减到比材料的其余部分更大的程度,提供了一种方法,其中复合材料的X射线3D断层合成图像使用X射线发射器阵列和数字X射线探测器形成,其中X射线发射器阵列和数字X射线探测器彼此保持固定关系并与复合材料保持固定关系,3D断层合成图像用于确定至少一些基准标记相对于彼此的相对位置;提供了一个数据库,用于存储至少一些基准标记相对于彼此的相对位置,可以对照数据库中的数据检查相同或不同复合材料的另外的X射线3D断层合成图像,以确定材料的结构完整性和/或特性。
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“生成复合材料的3D断层合成图像的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)