本发明涉及一种基于可控微界面消除法处理的MAPbI
3网状纳米线及其制备方法和在光电探测器中的应用。所述MAPbI
3网状纳米线是利用可控微界面消除法处理得到的。本发明方法有效地消除了MAPbI
3网状纳米线中的微界面,实现了高性能和高稳定性的MAPbI
3网状纳米线光电探测器的制备,制得的探测器响应度、探测度、响应时间、以及线性检测范围等性能参数与基于MAPbI
3单根纳米线或者MAPbI
3纳米线阵列所制备的光电探测器的性能相近,在某些方面还要更优。另外,本发明制备过程简单易重复,制备成本低廉,适合大面积大规模工业化生产,为
钙钛矿光电器件的商业化发展提供了强大的动力。
声明:
“基于可控微界面消除法处理的MAPbI3网状纳米线及其制备方法和应用” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)