本发明涉及一种适用于矿物学参数自动测量系统的样品制样方法,属于制样方法。采用的是矿样混合树脂胶进行冷嵌的方法,第一次冷嵌完成的树脂光片再剖切出横截面进行二次树脂镶嵌法,经过二次镶嵌后的树脂光片通过粗磨、细磨、精磨、抛光及表面导电处理后,制作成表面磨光面好,矿物代表性全面及具有良好导电性的矿物样品光片。本发明利用混合树脂胶二次冷嵌的方法所制做的样品具有分散性好,清晰易观察,矿物种类涵盖全面,代表性强等特点,且制样过程简单易操作,实用性强,应用广泛,制作的光片可适用于自动矿物学测量系统检测,也适用于电子探针、扫描电镜及金相显微镜下检测。
声明:
“适用于矿物学参数自动测量系统的样品制样方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)