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物质精确探测的方法及测量系统

730   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-02-28 01:00:09
本发明提出了一种物质精确探测的方法及测量系统,涉及物质探测技术领域。一种物质精确探测的方法,通过发出的单向正旋高能场,激发被测物质产生同频单向正旋高能场并发生共振,形成引力异常区,确定出引力异常区能量最强的位置,即为被测物质的方位和距离。一种物质精确探测的测量系统包括探矿仪器和红外波束发射器,通过探矿仪器快速找出物质的水平位置,再通过红外波束发射器快速找出物质的深度位置,最后快速精准确定被测物质三维空间内的位置,其具有探测效率高、成本低、分辨率高等特点。
声明:
“物质精确探测的方法及测量系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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