本发明公开使用组合的X射线计算机断层扫描(CT)/X射线荧光(XRF)系统对样本(104)进行相关性评估,还公开一种使用X射线CT和XRF分析样本(104)的方法。CT/XRF系统(10)包括用于获取体积信息的X射线CT子系统(100)和用于获取元素组成信息的XRF子系统(102)。几何校准被执行于XRF子系统(102)和X射线CT子系统(100)之间,从而X射线CT获取期间定义的感兴趣区域能被XRF子系统(102)恢复,以便随后的XRF的获取。系统(10)结合了X射线CT的亚微米空间分辨率三维成像能力和共焦XRF的元素组成分析,以提供样本(104)ppm级灵敏度的三维元素组成分析。这适用于许多科研和工业应用,其典型例子就是
采矿工业中破碎及研磨原矿和
浮选尾矿中的贵金属颗粒元素识别。
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