本发明公开了一种铁矿石的X荧光分析方法,1)所述的分析方法中采用的仪器主要包括:荧光光谱仪和粉末压片机,所述的粉末压片机的最大压力为50t;2)所述的分析方法中采用样品的制备:样品经粉碎研磨后,制成粒度为200目或200目以上粉样,称取粉样9.5~l0.0g于制粉器中,然后用硼酸作边,在粉末压片机上进行压片,在大于或等于40t的压力下保压40s或40s以上的时间,制成样片;将样片装入样盒,按设定的分析条件,在X荧光光谱仪上进行分析。采用上述技术方案,使铁矿石成分分析简便、快速,提高效率、精密度和准确度,能够满足生产需要。
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