权利要求书: 1.一种半导体测试分选机的储料机构,包括储料盒(1)、底板(4),其特征在于,所述储料盒(1)的内部固定设置有储料板(2),所述储料板(2)的顶部开设有滑槽A(201),所述储料板(2)的顶部开设有滑槽B(202),所述储料盒(1)的内壁两侧固定连接有输送通道(13);所述底板(4)的顶部左侧固定连接有支撑板(3),所述底板(4)的顶部右侧固定连接有立板(5),所述立板(5)的右侧顶部安装有暂存盒(12),所述暂存盒(12)的顶部右侧固定连接有挡板(16),所述暂存盒(12)的内部底部固定设置支撑杆(11),所述立板(5)的左侧安装有液压杆(14),所述立板(5)的右侧固定连接有连接柱(15),所述连接柱(15)的右端安装有滑轨A(6),所述滑轨A(6)的右端安装有伸缩柱(8),所述伸缩柱(8)的右端固定连接有滑轨B(7),所述滑轨A(6)与滑轨B(7)之间内侧连接有固定片(10),所述滑轨A(6)及滑轨B(7)的前、后两侧活动卡接有调节螺母(9)。2.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机的储料机构,其特征在于:所述储料板(2)共设置有三块,所述储料板(2)分为三层倾斜向下设置,且所述底部的储料板(2)内嵌于储料盒(1)底部。3.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机的储料机构,其特征在于:所述储料板(2)之间通过输送通道(13)首尾相连,且末端延伸至储料盒(1)开口处。4.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机的储料机构,其特征在于:所述滑槽B(202)之间的距离大于滑槽A(201)之间的距离,且所述滑槽B(202)分布于滑槽A(201)的两侧。5.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机的储料机构,其特征在于:所述液压杆(14)贯穿于立板(5)及暂存盒(12)设置,且所述液压杆(14)的输出端末端位于支撑杆(11)顶部上方。6.根据权利要求1所述的一种半导体测试分选机的储料机构,其特征在于:所述滑轨A(6)及滑轨B(7)呈“U”型状,且所述滑轨A(6)与滑轨B(7)连接处的顶部开口位于暂存盒(12)开口右侧下方。 说明书: 一种半导体测试分选机的储料机构技术领域[0001] 本实用新型涉及半导体测试分选机技术领域,更具体的,涉及一种半导体测试分
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我是此专利(论文)的发明人(作者)