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本发明公开了一种自修复光伏发电监测系统环境监测器及其实现方法，该自修复光伏发电监测系统环境监测器包括冗余模块、故障诊断模块、可编程阵列、故障检测信号线、故障诊断信号线、传感器模块、电源管理模块和通信模块，其中冗余模块包括电源管理冗余模块和通信冗余模块，故障诊断模块由故障诊断电路串接微处理器组成，可编程阵列包括动态重构模块和冗余动态重构模块，动态重构模块由前置放大模块和低通滤波模块组成，冗余动态重构模块包括两个I/O模块、两个冗余I/O模块和两个开关。本发明提供了环境监测器高效、稳定的故障监测和自修复方案；系统实时性好；改善了环境监测器遇到天气变化和环境影响而失效的状况。
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本发明提供一种用于电容结构的测试装置的保护装置,其中用于电容结构的测试装置包括至少两个第一焊盘,包括:第二焊盘;以及限流装置,限流装置串接于至少两个第一焊盘中的一个和所述第二焊盘之间,其中当通过限流装置的电流大于一电流阈值时自动断开,并且其中电流阈值至少部分根据用于电容结构的测试装置的漏电流标准规格电流而确定。本发明还提供一种包括以上保护装置的电容结构测试装置。通过本发明的技术方案,当测试失效时,所测得的漏电流已经超过标准规格电流后,电流仍会迅速增大。当其增大到限流装置的预定阈值时,该限流装置自动断开,从而待测电容结构的原始失效现场得以保护,便于在失效分析时通过连接极板的焊盘找到测试失效的根本原因。
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本发明公开了一种深水油气测试水下测试树试验系统，所述试验系统包括行程控制模块、海底高压模拟舱、台架模块、电信号控制模块、液压控制模块、连接定位功能测试模块、时间测试模块、温度压力测试模块、化学试剂注入测试模块以及正压泵通测试模块。本发明实现了对深水测试作业井口工况模拟，对不同型号及结构的水下测试树的解脱回接、定位导向、失效保护、正压泵通、关断时间、化学注入、钢丝及连续管剪切以及温度压力监测等功能及特性进行测试，从而为水下测试树样机设计及优化提供试验平台，保证了新产品可行性和实用性，并提高了整体研发效率；也可为水下测试树产品维保检修提供测试平台，从而更好地保证其在应用过程中的安全性和可靠性。
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本发明公开了一种监测螺栓松动状况的装置及监测方法，所述监测螺栓松动状况的装置包括安装盘和设置在安装盘上的监测电路，所述监测电路包括若干串联且电阻值均不同的电阻、若干与所述电阻并联的通断器且单个通断器与单个电阻形成并联电路，以及用于测量监测电路电阻值的测量端子，所述电阻中任意两个或者多个电阻的阻值和也均不相同。本发明所述的监测螺栓松动状况的装置可解决现有的螺栓运行工况难以实时监测和失效螺栓排查难度大等技术难题，减少人工检修时间和成本，还可以同时监测多个螺栓紧固状况，结构简单，安装方便，操作简便，具有可观的应用前景。
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本发明涉及一种基于实测载荷谱的弧齿锥齿轮修形齿面的修形方法，属于机械设计技术领域。该方法根据实测载荷谱，经过统计分析获得载荷分布，进而根据弧齿锥齿轮加载接触分析获得齿面应力分布，通过应力-强度干涉原理建立以齿面接触失效概率为准则的评价模型，采用某种多维变量优化方法进行迭代计算，求解失效概率最小的弧齿修形齿面。与现有修形方案相比，本发明综合考虑了载荷大小和循环次数对齿面修形的影响，将以往名义载荷下的定性评价、考虑单一因素的基于经验的修形齿面及修形方法，改进到针对实测载荷谱下的定量评价、考虑多因素的修形齿面及迭代优化方法。经试验证明，采用该方法获得的修形齿面可有效提高弧齿锥齿轮的可靠性和承载能力。
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本发明公开了一种齿轮箱内部挡油盘性能测试装置及测试方法，包括光源、相机、电机、扭矩传感器、测试箱体、分体式挡油盘及其固定支架，分体式挡油盘由前盖、后盖与侧盖组成，当测试不同侧盖直径对齿轮搅油损失的影响时避免了更换完整的挡油盘，单独更换侧盖即可，当测试挡油盘与齿轮端面的不同间距对齿轮搅油损失的影响时只需移动挡油盘限位螺母，使其轴向移动即可，测试箱体周围设置相机和光源可以获取不同挡油盘设计参数下箱体内部三维瞬态速度场。本发明结构简单，利用分体式挡油盘、挡油盘固定支架和PIV系统，能够实现使用少量的挡油盘测试样件准确测试大量不同挡油盘设计参数在不同油液粘度下降低齿轮搅油损失效能的快速检测。
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一种基于GIS的城市地下电力管网系统单元模型震害预测方法，以地下电力管网实际管道单元为计算依据，获得地下电力管网矢量数据，在单元失效概率综合分析的基础上，综合分析管段和网络系统的失效概率；采用等长度单元划分，根据经验和预测精度的要求，将预测的管网分割成等长的若干管道单元；借助GIS空间网络分析技术，建立单元概率震害预测模型方法，选择地震波强度和场地地震液化以及断层错动作为修正震害率，采用综合经验概率预测方法，建立电力管道震害分析综合失效概率模型。本发明利用GIS的空间数据分析处理功能对电力管道进行预测单元自动划分，实现管道单元震害的预测。
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本发明公开了一种半导体芯片测试探针卡，该探针卡上制造有同一晶圆上所有类型芯片电学测试所需要的探针。本发明还公开了一种利用上述探针卡的半导体芯片测试系统，通过探针卡连接测试被测芯片，将测试结果记录为不同种类的失效信息，根据失效信息的种类将失效信息输出至对应的存储服务器。本发明还公开了一种利用上述探针卡的半导体芯片测试方法。本发明的测试系统和测试方法降低了探针卡制卡成本，避免多次制造探针卡，总体生产成本降低，并且一个多合一探针卡对应一个晶圆上的所有芯片，便于探针卡的管理。本发明能一次完成多个芯片的全流程测试，提高了测试效率。
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本发明提供了一种测试数据深度溯源的方法，包括以下步骤：实时的从服务器上获取与被测产品相关的信息；通过正则表达式读取从所述服务器上获取的所述信息，并将所述信息里的关键信息分类存储，并绘制良率图；根据所述良率图获取所述被测产品的良率、失效分布状况、所述被测产品上失效芯片的具体失效信息以及所述被测产品上测试通过测试的芯片的具体信息。通过正则表达式对所述被测产品相关的关键信息进行分类存储，并绘制良率图，工程师可以根据良率图很直观的看出所述被测产品的良率及失效分布状况；可以获取所述被测产品上失效芯片的具体失效信息，提高失效分析的效率；还可以获取通过测试的芯片的具体测试信息，提高正常的数据分析效率。
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本发明涉及一种芯片自动测试方法及系统，所述方法包括实时记录被测试芯片在各测试时间点的各管脚的测试值；提取所述测试值；将所述测试值与期望值进行比较，并根据所述比较结果生成对比报告；根据所述对比报告定位所述被测试芯片的失效信息，所述失效信息包括失效管脚和所述失效管脚的失效时间点。本发明可以获取全部失效管脚的失效时间点，便于根据失效管脚的失效时间点，对失效位置和失效原因进行定位分析，还可以通过设置不同的期望值等，对测试值进行全面的分析，给出更加详细更加准确的测试结果，保证测试成功率。
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本发明涉及一种炉温均匀性测试工装及测试支架，一种炉温均匀性测试工装包括沿炉膛轴向伸入炉膛内部的测试杆和设置于测试杆前端的用于供热电偶固定安装的测温固定体，测温固定体上沿炉膛的径向方向上间隔设置有至少两个并位于炉膛径向方向上的同一平面上的热电偶，测温固定体上还设置有供相应热电偶安装的热电偶固定结构。此时网带炉的网带不需要开启驱动装置，采用人工将测试杆深入到炉膛的不同位置处，不仅解决了现有技术中测温框架随网带一起运动带来的由网带的振动导致测温框架偏斜的问题，现有技术中由于测温框架的偏斜导致原本处于同一平面内的热电偶不再位于同一平面内导致检测失效，而且本测试工装提高了工作效率且使用方便。
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本发明公开一种管内介质探测器，包括具有光源(16)的发射部(11)、具有光电检测器(17)的接收部(12)、连接所述发射部和接收部的基板(13)以及导管(15)，导管穿过所述发射部和接收部形成导管槽(14)并被限定位置，发射部和接收部面向导管的一侧设置有第一缝隙(112)和第二缝隙(122)。在本发明技术方案中，导管和第一缝隙、第二缝隙的相对位置关系被准确限定，从而使探测器稳定，不会误报或失效。本发明还公开一种探测器组件，包括上述管内介质探测器和探测器组件本体(20)，探测器组件本体设置有容纳槽(22)以及穿过该容纳槽的通槽(23a)，所述发射部、接收部安装在容纳槽内，所述导管穿过所述通孔槽。
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本发明属于数据分析技术领域，公开了一种基于人工智能大数据预测塑料压力管道长期寿命的方法，收集塑料压力管道失效案例；通过实验获取典型塑料压力管道材料的力学性能参数；提取影响塑料压力管道使用寿命的基本参数；将影响塑料压力管道使用寿命的基本参数作为输入参数，失效模式以及剩余寿命作为输出参数，形成大数据分析文件；通过大数据分析软件WEKA，进行数据挖掘分析，得到预测失效模式以及剩余使用寿命；选择适用于塑料压力管道的预测算法；根据选择的算法完成对塑料压力管道失效模式以及剩余使用寿命的预测。本发明预测塑料压力管道长期寿命的精准度、可靠性较高，可提高塑料压力管道的使用寿命，可提高安装、使用过程的安全性。
本发明公开了一种基于Coffin‑Mason的LED引线寿命预测方法，属于LED测试技术领域，在加速寿命实验中增加功率循环载荷，通过有限元仿真计算获取金引线塑性应变幅，再结合温度与电流加速老化试验，拟合出样品的coffin‑mason公式，得到引线寿命与引线在不同工作条件下的应变幅的关系曲线，再对不同条件下的样品进行功率循环仿真计算得到应变幅，再根据公式预测出引线的实际寿命。本发明可实现对不同工作条件下的芯片在金属引线疲劳失效方面的寿命预测；预测寿命效率高，预测准确性高，引入功率循环供电因素，提高了老化实验以及预拟合寿命预测经验公式的效率。
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本发明公开了一种电气化铁路接触网检修专用工具，包括液压撑拉杆(100)和机械撑拉杆(200)，液压撑拉杆(100)置于升降平台(20)上，在液压丝杠(8)与立柱(2)的连接部分设置有液压丝杠转位机构；机械撑拉杆(200)包括支柱夹头(12)、多孔调节杆(13)、机械丝杠(14)和勾环(15)，在支柱夹头(12)内设置有夹头收紧机构使机械撑拉杆(200)卡持在支柱(23)上；本发明所述工具简单，使用方便，可以同时对受损失效的腕臂(21)拆装更换、对金属导线(16)拉出值调整及校正、对承力索(22)及金属导线(16)收紧，能有效提高电气化铁路接触网检修的工作效率。
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本发明实施例是关于一种监测密封连接状态的密封监测系统及其监测方法，涉及密封技术领域，主要解决的技术问题是密封对合面失效的危险性较大。密封监测系统，包括：第一部件、第二部件、安全通道、压力调节装置以及监测装置，第二部件的密封面与第一部件的密封面密封对合形成密封对合面，以使第一部件和第二部件密封连接，密封对合面包括边缘轮廓区域以及内部区域；安全通道的第一端延伸至内部区域；压力调节装置与安全通道连通，用于调节安全通道内的压力；监测装置与安全通道连通，用于监测安全通道的压力变化或流量变化。通过监测所述安全通道的压力变化或流量变化，可以判断密封对合面密封失效，可以及时的提供密封失效预警。
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一种闪存类电子产品的寿命预测方法包括如下步骤:(1)对产品失效模式等失效信息和产品结构、工艺等器件信息进行分析,确定潜在失效机理及其失效物理模型;(2)确定影响失效机理的环境应力;(3)确定失效物理模型中的相关参数;(4)对产品实际经历的环境应力进行监测和记录;(5)将环境应力变化区间划分成合适的小区间,并统计各个小区间内的产品经历时间;(6)利用失效物理模型分别计算不同应力水平下的预计失效前时间;(7)分别计算产品在每个应力水平下由于不同失效机理造成的寿命损伤;(8)分别计算产品由于不同失效机理造成的寿命累积损伤;(9)预测不同失效机理下的产品剩余寿命;(10)预测整个产品的剩余寿命。
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本发明提供了一种基于FMEA的证券期货行业软件可靠性测试用例设计方法，该方法包括：根据获取的各类技术文档，通过结构分析，识别出组成证券期货行业软件系统的所有模块以及全部模块组件；进行功能分析，梳理模块或组件功能；识别模块或组件功能的失效模式，分析可能导致功能异常的干扰因素；针对确定出的干扰因素，结合失效原因库寻找模块或组件功能失效的失效原因以及失效影响；根据得到的失效原因构造特定场景，形成具体的测试步骤；将对系统正确处理失效影响的预期作为期望结果，结合对模块或组件功能的梳理结果细化形成测试用例。本发明为证券期货行业建立了可靠性测试体系，提供了规范化、标准化的可靠性测试设计方法。
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本发明提供用于一种检验物理系统模型的鲁棒性的系统和方法,该方法包括下列步骤:定义一个物理系统的第一模型(10),该第一模型(10)包括一组(12)部件(12a、12b、12c)和至少一个用于插入输入值的输入接口(14),该第一模型利用描述每个所述部件之工况和功能形式语言定义;用形式语言定义确定的特性,该物理系统的模型必须满足该确定的特性;用形式语言定义了一个第二模型(20),该第二模型(20)对应于第一模型并且新增了故障引入机制(22);以及使用形式检验装置自动搜索引起所述确定的特性失效的引入故障和/或输入值的组合。
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本发明提供了一种非均匀组织厚板焊接接头低周疲劳性能测试方法，包括如下步骤：在设定的应变幅下对试样进行低周疲劳测试，观察断裂位置；将试样在在静态拉伸机进行静态拉伸试验，观察断裂位置；选取焊接接头的金相试样，采用硬度计对焊接接头的非均匀组织硬度分布规律进行标定；对比分析低周疲劳测试断裂试样、静态拉伸试验断裂试样的断裂位置，结合焊接接头非均匀组织硬度分布规律，判断试样低周疲劳失效断裂位置；以低周疲劳失效断裂位置为低周疲劳试样加工中心重新加工试样，重新加工的低周疲劳试样的标距包含断裂区域；将重新加工的试样再次进行低周疲劳测试，分析低周疲劳测试结果，获得焊接接头断裂区域的应变寿命方程。
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本发明涉及一种纳米探针及纳米探针测试仪，包括针臂，所述针臂的一端用于连接测试仪，另一端设置有用于同时与待失效分析半导体器件同一极性两个以上钨栓接触的触头。在待失效分析半导体器件电学特性测试中，此纳米探针可同时接触待失效分析半导体器件同一极性多个钨栓，用多个钨栓共同对应的电学特性表征待失效分析半导体器件的实际电学特性，能够有效避免个别纳米探针触头与钨栓接触不良，或个别钨栓下没有硅化物等因素导致的测试误差，从而更精准的反映待失效分析半导体器件的实际电学特性。
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本发明提供了一种配电终端检修时间预估方法及装置，该方法包括：获取配电终端样本，配电终端样本的寿命满足威布尔分布；获取预置的时间起点和时间终点，进行威布尔分布的积分运算和归一化得到配电终端样本在当前次检修前后的故障率；获取配电终端样本在当前次检修前后的终端失效后果量化值，并根据终端失效后果量化值与故障率对应进行计算得到配电终端样本在当前次检修前后的设备风险；根据设备风险建立最佳检修策略的目标函数，对目标函数进行求解得到最佳检修时间。本发明解决终端定期检修中的可靠性与经济性的矛盾状态。
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本实用新型属于检验试剂储存技术领域，尤其为一种医院检验试剂有效期提醒装置，包括壳体，所述壳体通过第一隔板和第二隔板分隔为空腔，所述空腔的数量为多个，所述空腔的内壁上开设有滑槽；本实用新型，通过设置卡杆、卡槽和弹簧，通过拉动卡杆，使卡杆与卡槽脱离，方便通过把手将放置盒取出，方便对试剂进行拿取，且方便对放置盒进行固定，通过设置处理器、无线信号发送器、蜂鸣器、和指示灯，将试剂的失效日期和号码牌上的数字通过操作面板进行输入，在计时器的作用下，当到达失效日期，无线信号发送器会通过短信的方式通知工作人员，且指示灯与蜂鸣器同时启动，对工作人员进行提示，方便工作人员对失效试剂进行及时的处理。
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本发明公开了一种结构件裂纹征兆探测系统、探测方法及挖掘机，所述探测系统包括：数据采集模块，用于获取车身姿态信息、结构件应力信息和结构件工作载荷信息；数据处理模块，根据车身姿态信息、结构件应力信息和结构件工作载荷信息计算结构件的负荷积累，并基于疲劳开裂仿真数据和历史开裂数据计算结构件的损伤积累情况；该探测系统能够在裂纹发生之前检测到征兆，实现失效前精准维护和检修，降低生命周期成本和设备停机时间。
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本发明涉及一种水电站机组检测领域，即水电站机组振动测量监测方法。它包括压电式加速度传感器，前置处理模块，保护数据采集装置完成A/D数据采集，同时负责抑制传感器共振信号；压电式加速度传感器和前置处理模块之间采用低噪声、低衰减电缆，以保证电信号在传输过程中不带来衰减和更大的噪声。将压电式加速度传感器应用于水力机组振动测量，其具有高灵敏度、低噪声、低频率响应等特点，保证低频小幅值振动信号输出的电压信号足够强、噪声信号不能淹没真实的低频小幅值加速度信号、能检测出低达0.5Hz的振动信号；解决了原有惯性低频振动传感器测量信号失真或失效、精度差等问题。
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本发明公开了一种智能变电站继电保护实时可靠性预测方法,包括以下步骤：S1:建立单个装置故障率的二参数LN分布模型，将单个继电保护装置寿命历史数据作为输入，其故障率为累积密度函数；S2：对非线性的LN分布模型进行线性转化，进行直线拟合，求得时变失效率；S3：建立保护系统的时变马尔可夫模型，不同状态之间的实时转换概率由保护装置LN分布模型确定，分别分析其转移概率矩阵P和转移密度矩阵A，得出马尔可夫实时状态概率。采用本发明通过计算状态转移矩阵与初始状态的乘积可以得到实时的保护系统状态概率，提供短时(一小时)的状态预测，实现状态评估并为状态检修提供参考。
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本申请实施例提供一种玻璃破碎探测器和测试方法，涉及安防技术领域，能够降低驻极体麦克风的玻璃破碎探测器的产品体积和成本，以及降低对对驻极体麦克风自检的实现复杂度。具体方案为：微处理器向第一电压驱动电路发送第一交流信号；第一电压驱动电路向驻极体麦克风发送脉冲信号，以驱动驻极体麦克风工作，驻极体麦克风接收到的脉冲信号与第一交流信号相同。驻极体麦克风在驻极体麦克风工作时，与第二电压驱动电路进行分压衰减，使第二电压驱动电路向微处理器输出第二交流信号。微处理器根据第二交流信号或第二交流信号相对第一交流信号的衰减幅度确定驻极体麦克风是否失效。本申请实施例用于实现对玻璃破碎探测器中的麦克风自检的过程。
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一种快速的集成电路测试流程优化方法,通过对测试项目重排序,减少了失效芯片的测试时间。包括步骤:S10:确定验证分析阶段测试向量和测试流程;S20:确定的测试向量和测试流程对芯片进行验证分析并得到原始的通过/失效测试信息表;S30:调用转换程序将通过/失效测试信息表转化为测试项目有效性表;S40:应用基于测试效率系数的排序方法,对测试项目进行优化,得到一个优化的测试流程。本发明提出的优化方法具有简单、易于实现且优化速度快的特点。优化速度快使得本发明特别适合应用于现代SOC测试中测试项目一般都比较多的情况。
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本发明公开了一种IGBT底板与散热器接触面的测试工装及测试方法，通过将IGBT底板设置于定位装置上定位，并使得安装板、IGBT底板及定位装置位于同一中心线上，保证检测的准确性，且通过驱动装置带动IGBT底板向上移动与高度传感器接触检测IGBT底板的平面度，可有效检测IGBT底板的合格率，保证IGBT底板后期的正确安装，使得出厂的IGBT模块平面度满足要求，避免由于平面度较差无法正确安装导致IGBT模块的失效等问题，降低生产使用成本，同时保证IGBT底板和散热器之间有良好的热传导性，且提高IGBT模块运行可靠性。
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本发明公开了一种提高Serdes IP晶圆测试效率的方法，包括以下步骤：S10：对晶圆测试的MAP图进行实时读取，记录相应坐标、测试结果以及失效分类信息；S20：分析是否存在某个site测试明显比其他site失效要多，或者某个site有连续的失效，若存在，则一旦site间差异失效数或连续失效数超出预设数量时进行该项目失效报警；S30：针对区域失效的特点，设计相应的算法完成统计，通过该方法的实现可以自动快速的对测试结果进行分析，针对Serdes IP对测试硬件较敏感的特性，能够及早的发现并排除隐患，减少误测，以及对区域失效能快速的提取分析，大大减少人工数据分析的工作量，提高Serdes IP晶圆测试生产的效率。
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