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CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法

777   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:12
本发明公开了一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法。本发明将CT探测器核心部件放入高加速寿命试验箱中,控制高加速寿命试验箱同时进行温度、振动循环周期性试验。并通过高低温循环变化,逐步增加温度应力系数。在每个高温点向低温点变化的同时,振动应力步进增加。在各相应时间点进行失效判断和失效统计,直到试验样品全部失效为止,最后进行失效分析,鉴定探测器核心部件的平均无故障工作时间。本发明避免了正常寿命试验方法样机数大、耗时久的缺点,相比普通的高低温循环试验、振动步进试验大大缩短了试验时间。在短期内快速激发核心部件的潜在故障,为产品的整体设计提供全过程技术支持,有效提高产品的可靠性水平。
声明:
“CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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