设备主要利用涡电流测试原理,非接触测试半导体材料,石墨烯,透明导电膜,碳纳米管,金属等材料的方阻(电阻率)。 可实现单点测试,亦可以实现面扫描的测试功能,可用于材料研发及工艺的监测及质量控制。 本仪器为非接触,非损伤测试,具有测试速度快,重复性佳,测试敏感性高,可以直接测试产品片。
非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪、方阻测试仪、硅片电阻率测试仪、涡流法高低电阻率分析仪、晶锭电阻率分析仪、涡流法电阻率探头和PN探头测试仪、迁移率(霍尔)测试仪、少子寿命测试仪,晶圆、硅片厚度测试仪、表面光电压仪JPV\SPV.汞CV. ECV。为碳化硅、硅片、氮化镓、衬底和外延厂商提供测试和解决方案。 凭借技术和丰富的产品设计经验,申请各项知识产权17余项,已发展成为中国大陆少数具有一定竞争力的半导体专用设备提供商,产品得到众多国内外主流半导体厂商的认可,并取得良好的市场口碑。
XNDT-101主要由X射线源、线阵探测器、传动系统和主机电脑组成,实现对铸造件内部缺陷的在线检测。
XNDT-102便携式成像系统由1个探测器盒、1台便携式射线源和1台笔记本电脑组成,可用于公共安全场合的包裹安全检查、工业无损检测等。
先进的半电池测量仪器,可对腐蚀电位进行现场映射。专用软件可使用棒式和轮式电极进行辅助测量。统计软件可直接进行数据分析。
简单直观的金属硬度检测 – Equotip Bambino 2 是独立的,不会将指示平台与线缆分离开来。Equotip Bambino 2 是一款经济实惠、使用方便的便携式回弹检测仪,可测量大多数金属的硬度。 它的结构轻巧紧凑,并配有创新的冲击设备 D,具有无可比拟的性价比。
新一代 Equotip 触摸屏装置提供由行业专家精心设计的界面,提高了检测效率和改善用户体验。 改进的软件可提供互动向导、自动验证进程、个性化选项和自定义报告功能。 此外,该仪器可兼容后续开发产品。 全彩显示屏使您能够执行高质
用于刮擦敏感、抛光及细小部件的 Portable Rockwell 硬度检测仪。它通过微米级的细小穿透能力及灵敏度。坚固的触摸屏带有增强的软件应用和分析功能。
世界上首款无线 UCI 检测仪。Equotip Live UCI 为便携式硬度检测创造了新机会。您可使用 Equotip iOS 在远程位置执行测量并让您的团队即时访问您的结果。无需亲自运送 U 盘或通过电子邮件手动发送报告。
用于金属和复合材料零件的探伤、实现便携且用户友好的超声波测试
PaperSchmidt 是首款专门为测试纸卷分析数据而设计的集成回弹仪。它具有高精度和可重复性,可实时提供评估纸卷质量所需的所有关键参数。PaperSchmidt 具有更长的使用寿命,以应对造纸工业的繁重需求。
RockSchmidit是 SilverSchmidt的另一特定版本,专门适用于岩石检测应用,如UCS关联或预测隧道钻孔机器和旋转辊式切料机的穿透率。
全而适用:只需一台设备,既可独立运作,又可联网货在线生产,甚至可以开展非接触式生产。 极致便携:有史以来最小巧、最轻盈的实时光泽仪,凭借人体工程学设计盒细小支撑而积,轻松测量各方向的狭窄、弯曲空间。 数字技术:智能化软件让您能够通过语音、照片和备注为测量数据增添注释。生产报告,还可与同事和客户立即共享。随时随地都可访问数据。
灵活的 UCI 硬度检测仪用于具有任何形状和热处理表面的细粒材料。可调节检测可负载和涵盖广泛的测试范围。坚固的触摸屏带有增强的软件应用和分析功能。