本发明公开了多路IGBT结温及热疲劳实时监控系统,该系统是基于FPGA实现的一种可靠性测试系统,适用于实时监控IGBT的结温。该系统选取栅极与集电极短路时的电压VGE作为IGBT的温度敏感参数,在降温过程,测量该温度敏感参数,并对其采用线性拟合和最小二乘法方法,推导出结温与时间t的关系,进而反推结温。该系统不仅可以实时监控被测器件的结温,还可以利用PID自校准算法加速产品的失效进程,有效缩短实验时间,最终完成IGBT热疲劳实验。在此基础上,增加过流、过压、过温保护任务,通过报警并自动断电的方式,可以实时保护IGBT器件,完成热疲劳监控任务。本发明可根据实际应用需要对系统进行功能扩展和完善,进一步丰富IGBT结温及热疲劳实时监控系统的功能。
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