合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 带结温监控高温反偏的电路控制结构

带结温监控高温反偏的电路控制结构

821   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:02:37
本实用新型公开了一种带结温监控高温反偏的电路控制结构,包括作为主体的高温反偏测试电路,所述的高温反偏测试电路包括被测二极管D1、开关K1、开关K2、电阻R1和电压源VR,所述的被测二极管D1的两端接有结温监控测试电路,所述的结温监控测试电路包括开关K3、开关K4和电流源Im。本实用新型克服了传统的二极管高温反偏试验中由于没有设置结温监控导致在试验中易出现器件失效的风险的问题。本实用新型具有采集数据方便、计算数据方便和测量精度较高等优点。
声明:
“带结温监控高温反偏的电路控制结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记