合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 集成电路综合环境试验方法

集成电路综合环境试验方法

1060   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:02:33
本发明公开了一种集成电路综合环境试验方法,包括:S1,根据集成电路的产品基本信息和使用的环境信息,获取试验最高温度TTH、试验最低温度TTL、试验最高温度变化率ΔTE、试验功率密度谱、试验湿度和试验电应力;S2,根据上述试验数据,分别在给所述集成电路施加额定工作电压、最高工作电压、最低工作电压时,同时进行温度循环试验、随机振动试验和湿度试验;S3,上述试验后,对所述集成电路进行功能测试,如果所述集成电路功能丧失,或任一性能参数值超出设计范围,则所述集成电路失效;否则,所述集成电路完好。本发明能真实模拟集成电路的实际使用环境,更快更全面的激发产品的故障缺陷,为改进集成电路设计、制造缺陷提供参考。
声明:
“集成电路综合环境试验方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记