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热电应力下的Flash存储器擦写性能评价方法

1073   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:02:33
本发明提供一种热电应力下的Flash存储器擦写性能评价方法,步骤如下:一:Flash存储器初筛,对器件样品做一次全片擦写读测试,剔除已失效的器件;二:选择擦写测试算法,选择试验温度分组,模拟不同强度的环境应力;三:进行擦写循环试验,记录各温度组的读出数据错误数量,器件全部失效或到达预设试验时间试验停止;四:筛选试验数据,计算各温度组的平均无故障工作时间θ;五:计算环境温度与该温度平均无故障工作时间函数关系;六:求出常温下平均无故障工作时间;七:根据擦写循环试验中,单次循环所用时间和擦写次数,计算常温下耐擦写次数;八:与该型号器件理论耐擦写次数比较,评价该批次器件擦写性能是否满足要求;通过以上步骤,可以利用擦写次数评价Flash存储器的擦写性能,减少试验时间,为Flash存储器测试与评价提供充分的可靠性依据,具有实际推广应用价值。
声明:
“热电应力下的Flash存储器擦写性能评价方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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