本发明提供了一种平面透射电镜样品的制备方法,包括:制备SELA加工所需的第一样品,所述第一样品上设有目标区域;使用SELA对所述第一样品进行裂片,形成包括所述目标区域的第二样品;将所述第二样品切割和减薄形成TEM样品。本发明的技术方案成本较低,简便易行,大大提高了制备平面TEM样品的速度和准确性,对失效分析工作有极大的帮助。
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