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芯片的筛选方法

1054   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:09
本发明提供一种芯片的筛选方法,包括:提供一晶圆,所述晶圆包括多个芯片,各个所述芯片包含多个存储单元;向所述芯片的所有所述存储单元写入数据以设置第一测试背景,并在所述第一测试背景下获取所述芯片的第一测试数据;向所述芯片的所有所述存储单元写入数据以设置第二测试背景,并在所述第二测试背景下获取所述芯片的第二测试数据;基于所述第一测试数据及所述第二测试数据,判断所述芯片是否失效。通过本发明解决了现有的无法通过检验存储单元电压VT最小值方法来筛查不合格芯片的问题。
声明:
“芯片的筛选方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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