合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 基于非精确定位的透射电镜样品制备方法

基于非精确定位的透射电镜样品制备方法

1086   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:40
本发明公开了一种基于非精确定位的透射电镜样品制备方法,属于半导体技术领域。所述方法包括:提供失效分析芯片,对失效分析芯片中的失效点进行定位并标记得到标记区域;在标记区域的一侧切割第一楔形空洞,并对第一楔形空洞中靠近标记区域的截面进行减薄直至观察到失效点;在观察到失效点的截面上形成保护层;在标记区域的另一侧切割第二楔形空洞,并对第二楔形空洞中靠近标记区域的截面进行减薄直至得到预设厚度的初样;对初样的底部进行U形切断后进行减薄,得到透射电镜样品。本发明中的方法,能够有效的避免失效点的误切,以及已切到失效点的一面在后续工艺中被损伤或者溅脏,从而提高了制样成功率,改善了观察结果。
声明:
“基于非精确定位的透射电镜样品制备方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记