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关于IC高压损伤模拟系统及方法

703   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:40
本发明涉及一种关于IC高压损伤模拟系统及方法,所述系统包括控制装置、电压装置、电压脉冲源装置及检测装置;所述控制装置连接于电压装置及电压脉冲源装置,所述控制装置用于控制电压装置及电压脉冲源装置;所述电压装置用于为待检测IC提供工作电压;所述电压脉冲源装置用于向待检测IC的待测引脚输出电平脉冲;所述检测装置用于采集待测IC的耐压程度及损伤程度,并生成数据库。通过对待检测IC进行高压损伤模拟,形成每颗IC特有的数据库,而当发生IC失效时,将失效数据导入到数据库中进行比对,就可以反推出导致损伤的电压状态以及路径,实现追根溯源,及快速定位失效源头,提高终端问题的解决效率。
声明:
“关于IC高压损伤模拟系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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