本发明涉及一种激光辐照效应损伤阈值分析方法,具体涉及一种阵列式图像传感器激光损伤阈值估算方法,解决激光干扰损伤效应阈值实验数据存在较大差异的问题。该方法通过获取阵列式图像传感器样品上不同程度的点损伤效应、线损伤与大面积失效激光参数,以及失效阈值,计算得出线损伤阈值、大面积失效阈值,再以点损伤阈值为基准阈值,计算出线损伤、大面积失效以及失效的相关参数,最后通过多次实验得到线损伤、大面积失效和失效的相关系数区间。根据此参数区间和未知器件或相似器件的点损伤阈值,就可得到未知器件或相似器件的线损伤、大面积失效和失效的系数区间。消除测量不确定度、效应现象随机性、样品个体差异的实验误差,提高准确度。
声明:
“阵列式图像传感器激光损伤阈值估算方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)