本实用新型提供一种微光显微镜装置,其特征在于,包括:微光显微镜、光路装置、光探测装置及探针,其中,所述光路装置包括呈预设夹角的第一光反射面以及第二光反射面,待测样品设置于所述第一光反射面的上方,所述光探测装置设置于所述第二光反射面的上方,所述待测样品的激发光从待测样品的背面发出,并经由所述第一光反射面以及第二光反射面反射后,入射至所述光探测装置内。本实用新型在待测样品不需要做任何调整的情况下,同时兼备正面EMMI分析功能和背面EMMI分析功能,操作方便,适用性广,有效降低了
芯片失效分析成本并提高分析效率。而且,本实用新型都是从正面下探针,进一步提高了操作的便利性和工作效率。
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