合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 数据线合格性测试方法和装置、阵列基板及其制作方法

数据线合格性测试方法和装置、阵列基板及其制作方法

952   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:22
本发明提供了一种数据线合格性测试方法和装置、阵列基板及其制作方法,所述数据线合格性测试方法包括:根据第一预设数据电压点亮距离数据驱动电路最近的第一像素,并根据第二预设数据电压点亮距离数据驱动电路最远的第二像素;所述第一像素和所述第二像素对应连接同一条被测数据线;获取所述第一像素的亮度和所述第二像素的亮度;判断所述第一像素的亮度与所述第二像素的亮度的实际亮度差是否大于预设亮度差;并在所述实际亮度差大于预设亮度差时,判定所述被测数据线不符合要求。本发明提供的数据线测试方法,可以在不设置金属测试线的情况下完成对数据线的合格性测试,能够从根本上避免因设置金属测试线导致的封装失效的问题。
声明:
“数据线合格性测试方法和装置、阵列基板及其制作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记