合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 基于电路分割的低功耗扫描测试方法

基于电路分割的低功耗扫描测试方法

916   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:20
一种测试技术领域的基于电路分割的低功耗扫描测试方法,步骤如下:1)电路分割:对设计进行逻辑划分,划分后一个逻辑部分对应一个扫描测试模式;2)扫描时钟设计:对各个逻辑部分进行扫描测试时,每一时刻只有一个逻辑部分的扫描时序单元的时钟可控制;3)独立扫描链电路设计:对于整个设计进行逻辑分割后,各个划分的测试逻辑部分是互异的关系;4)输入输出复用:划分的多个逻辑部分都有对应的扫描链,各逻辑部分的扫描链通过多路选择器复用共同的输入输出端口。本发明减少了同时进行扫描测试的扫描触发器的数量,大大降低了瞬时测试功耗,平均功耗也有所降低,从而避免了芯片在测试过程中由于功耗过大而失效。
声明:
“基于电路分割的低功耗扫描测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记